Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001)
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001). / Teichert, Christian.
2005. Postersitzung präsentiert bei MRS Spring Meeting 2005, San Francisco, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
2005. Postersitzung präsentiert bei MRS Spring Meeting 2005, San Francisco, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
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Harvard
Teichert, C 2005, 'Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001)', MRS Spring Meeting 2005, San Francisco, USA / Vereinigte Staaten, 28/03/05 - 1/04/05.
APA
Teichert, C. (2005). Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001). Postersitzung präsentiert bei MRS Spring Meeting 2005, San Francisco, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
Vancouver
Teichert C. Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001). 2005. Postersitzung präsentiert bei MRS Spring Meeting 2005, San Francisco, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
Author
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TY - CONF
T1 - Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001)
AU - Teichert, Christian
PY - 2005
Y1 - 2005
M3 - Poster
T2 - MRS Spring Meeting 2005
Y2 - 28 March 2005 through 1 April 2005
ER -
