Characterization of closely crystallographically related phases in gamma-TiAl alloys by HEXRD and TEM imaging

Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

Autoren

  • H. Gabrisch
  • F. Pyczak
  • M. Rackel
  • U. Lorenz
  • N. Schell
  • A. Schreyer
  • A. Stark

Organisationseinheiten

Details

Titel in ÜbersetzungCharacterization of closely crystallographically related phases in gamma-TiAl alloys by HEXRD and TEM imaging
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungMicroscopy Conference - Regensburg, Deutschland
Dauer: 25 Aug. 2013 → 30 Aug. 2013

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference
Land/GebietDeutschland
OrtRegensburg
Zeitraum25/08/13 → 30/08/13
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