Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy. / Teichert, Christian.
2005. Postersitzung präsentiert bei International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
2005. Postersitzung präsentiert bei International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
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Harvard
Teichert, C 2005, 'Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy', International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, USA / Vereinigte Staaten, 13/08/05 - 16/08/05.
APA
Teichert, C. (2005). Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy. Postersitzung präsentiert bei International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
Vancouver
Teichert C. Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy. 2005. Postersitzung präsentiert bei International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
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title = "Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy",
author = "Christian Teichert",
year = "2005",
language = "English",
note = "Int. Conf. “Seeing at the Nanoscale III” ; Conference date: 13-08-2005 Through 16-08-2005",
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TY - CONF
T1 - Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy
AU - Teichert, Christian
PY - 2005
Y1 - 2005
M3 - Poster
T2 - Int. Conf. “Seeing at the Nanoscale III”
Y2 - 13 August 2005 through 16 August 2005
ER -
