Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

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Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy. / Teichert, Christian.
2005. Postersitzung präsentiert bei International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

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Teichert, C 2005, 'Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy', International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, USA / Vereinigte Staaten, 13/08/05 - 16/08/05.

APA

Teichert, C. (2005). Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy. Postersitzung präsentiert bei International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.

Vancouver

Teichert C. Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy. 2005. Postersitzung präsentiert bei International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.

Author

Teichert, Christian. / Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy. Postersitzung präsentiert bei International Conference “Seeing at the Nanoscale III”, Santa Barbara, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.

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TY - CONF

T1 - Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy

AU - Teichert, Christian

PY - 2005

Y1 - 2005

M3 - Poster

T2 - Int. Conf. “Seeing at the Nanoscale III”

Y2 - 13 August 2005 through 16 August 2005

ER -