Camera calibration, data segmentation, and fitting approaches for a visual edge inspection system
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › (peer-reviewed)
Autoren
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Externe Organisationseinheiten
- Christian Doppler Laboratory for Sensor and Measurement Systems
- Schienen GmbH
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 42-51 |
| Seitenumfang | 10 |
| Fachzeitschrift | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Jahrgang | 5303 |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 1 Dez. 2004 |
| Veranstaltung | Machine Vision Applications in Industrial Inspection XII - San Jose, CA, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 21 Jan. 2004 → 22 Jan. 2004 |
