Camera calibration, data segmentation, and fitting approaches for a visual edge inspection system

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzartikel(peer-reviewed)

Autoren

Externe Organisationseinheiten

  • Christian Doppler Laboratory for Sensor and Measurement Systems
  • Schienen GmbH

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)42-51
Seitenumfang10
FachzeitschriftProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Jahrgang5303
DOIs
StatusVeröffentlicht - 1 Dez. 2004
VeranstaltungMachine Vision Applications in Industrial Inspection XII - San Jose, CA, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 21 Jan. 200422 Jan. 2004