Addressing Fracture Properties of Individual Constituents Within a Cu-WTi-SiOx-Si Multilayer
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- Kompetenzzentrum Automobil- und Industrieelektronik GmbH
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 4551-4558 |
| Seitenumfang | 8 |
| Fachzeitschrift | JOM |
| Jahrgang | 72.2020 |
| Ausgabenummer | 12 |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 10 Nov. 2020 |
