Thomas Prohaska

Publikationen

  1. 2001
  2. Veröffentlicht

    Arsenic fractionation in soils using an improved sequential extraction procedure

    Prohaska, T., Wenzel, W. W. & Stingeder, G., 2001, in: Analytica chimica acta. S. 309-323

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Evaluation of different methods for detector deadtime correction in ICPMS

    Prohaska, T., Quétel, C., Vogl, J. & Taylor, P., 2001, in: Journal of analytical atomic spectrometry. S. 333-338

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht
  5. Veröffentlicht

    Strontium isotope ratio determination after on-line matrix separation by coupling ion chromatography (HPIC) to an inductively coupled plasma sector field mass spectrometer (SF-ICP-MS)

    Prohaska, T., Latkoczy, C., Watkins, M., Stingeder, G. & Teschler-Nicola, M., 2001, in: Analytical and bioanalytical chemistry. S. 806-811

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. 2000
  7. Veröffentlicht

    Comparative performance study of ICP mass spectrometers by means of U isotopic measurements

    Prohaska, T., Quétel, C., Vogl, J. & Taylor, P., 2000, in: Fresenius' journal of analytical chemistry .

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht
  9. Veröffentlicht

    Determination of trace elements in human milk by inductively coupled plasma sector field mass spectrometry (ICP-SFMS)

    Prohaska, T. & Stingeder, G., 2000, in: Journal of analytical atomic spectrometry. S. 335-340

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht
  11. Veröffentlicht

    Lead isotope ratio analysis in a soil profile by inductively coupled plasma sectorfield mass spectrometry

    Prohaska, T., Watkins, M., Latkoczy, C., Wenzel, W. W. & Stingeder, G., 2000, in: Journal of analytical atomic spectrometry. S. 365-370

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    Observation of structural depth profile of porous silicon by atomic force microscopy

    Prohaska, T. & Chang, D., 2000, in: Journal of porous materials. S. 349-352

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)