Rostislav Daniel
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Publikationen
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30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film
Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Evolution of structure, stresses and mechanical properties of a fcc/hex-AlCrN multilayer system upon thermal loading revealed by cross-sectional X-ray nanodiffraction and micromechanical testing
Jäger, N., Klima, S., Hruby, H., Mitterer, C., Keckes, J. & Daniel, R., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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New insights into the oxidation behaviour of AlCrSiN coatings and a new approach to avoid trans-interface diffusion at elevated temperatures
Jäger, N., Klima, S., Hruby, H., Mitterer, C., Keckes, J. & Daniel, R., 2017.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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New insights into the oxidation behaviour of AlCrSiN coatings and an new approach to avoid trans-interface diffusion at elevated temperatures
Jäger, N., Klima, S., Meindlhumer, M., Hruby, H., Mitterer, C., Keckes, J. & Daniel, R., 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Evolution of structure and residual stress of a fcc/hex-AlCrN multi-layered system upon thermal loading revealed by cross-sectional X-ray nano-diffraction
Jäger, N., Klima, S., Hruby, H., Julin, J., Burghammer, M., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 2019, in: Acta materialia. 162.2019, 1, S. 55-66 12 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Antibacterial Silicon Oxide Thin Films Doped with Zinc and Copper Grown by Atmospheric Pressure Plasma Chemical Vapor Deposition
Jäger, E., Schmidt, J., Pfuch, A., Spange, S., Beier, O., Jäger, N., Jantschner, O., Daniel, R. & Mitterer, C., Feb. 2019, in: Nanomaterials. 9.2019, 2, S. 1-14 14 S., 255.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Microstructural evolution and thermal stability of AlCr(Si)N hard coatings revealed by in-situ high-temperature high-energy grazing incidence transmission X-ray diffraction
Jäger, N., Meindlhumer, M., Spor, S., Hruby, H., Julin, J., Stark, A., Nahif, F., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 18 Jan. 2020, in: Acta materialia. 186.2020, March, S. 545-554 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Impact of Si on the high-temperature oxidation of AlCr(Si)N coatings
Jäger, N., Meindlhumer, M., Zitek, M., Spor, S., Hruby, H., Nahif, F., Julin, J., Rosenthal, M., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 20 Feb. 2022, in: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY. 100.2022, 20 February, S. 91-100 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Complementary ab initio and X-ray nanodiffraction studies of Ta2 O5
Hollerweger, R., Holec, D., Paulitsch, J., Bartosik, M., Daniel, R., Rachbauer, R., Polcik, P., Keckes, J., Krywka, C., Euchner, H. & Mayerhofer, P. H., 30 Okt. 2014, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 83.2015, 15 January, S. 276-284 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Ion irradiation-induced localized stress relaxation in W thin film revealed by cross-sectional X-ray nanodiffraction
Hlushko, K., Mackova, A., Zalesak, J., Burghammer, M., Davydok, A., Krywka, C., Daniel, R., Keckes, J. & Todt, J., 7 Feb. 2021, in: Thin solid films. 722.2021, 31 March, 6 S., 138571.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
