Rostislav Daniel
81 - 90 von 164Seitengröße: 10
Publikationen
- Veröffentlicht
Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films
Keckes, J., Stefenelli, M., Todt, J., Mitterer, C., Daniel, R. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Residual stresses and thermal fatigue in CrN hard coatings characterized by high-temperature synchrotron X-ray diffraction
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Klaus, M., Genzel, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Thin solid films. 518, 8, S. 2090-2096Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Residual stresses in thermally cycled CrN coatings on steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 1167-1171Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure-stress relationships in nanocrystalline multi-layered AlCrN coatings studied by cross-sectional X-ray nanodiffraction
Klima, S., Jäger, N., Hruby, H., Mitterer, C., Keckes, J. & Daniel, R., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
- Veröffentlicht
Evolution of structure and mechanical properties of nanocrystalline multi-layered arc-evaporated AlCrN-AlTiN coatings upon thermal loading revealed by X-ray nanodiffraction and tribological investigation
Klima, S., Jäger, N., Meindlhumer, M., Hruby, H., Keckes, J. & Daniel, R., 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
- Veröffentlicht
Structure-stress relationships in nanocrystalline multilayered Al0.7Cr0.3N/Al0.9Cr0.1N coatings studied by cross-sectional X-ray nanodiffraction
Klima, S., Jäger, N., Hruby, H., Mitterer, C., Keckes, J., Burghammer, M. & Daniel, R., 15 Mai 2019, in: Materials and Design. 170, S. 1-9 107702.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Selective interface toughness measurements of layered thin films
Konetschnik, R., Daniel, R., Brunner, R. & Kiener, D., 9 März 2017, in: AIP Advances. 7.2017, 3, 5 S., 035307.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nanoscale residual stress depth profiling by focused ion beam milling and eigenstrain analysis
Korsunsky, A. M., Salvati, E., Lunt, A. G. J., Sui, T., Mughal, Z. M., Daniel, R., Keckes, J., Bemporad, E. & Sebastiani, M., 2018, in: Materials and Design. 145, S. 55-64Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Using pulsed and modulated photothermal radiometry to measure the thermal conductivity of thin films
Kusiak, A., Martan, J., Battaglia, J.-L. & Daniel, R., 2013, in: Thermochimica Acta. 556, S. 1-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
