Quan Shen
(Ehemalig)
Publikationen
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Ex situ and In situ Characterization of Patterned Photoreactive Thin Organic Surface Layers Using Friction Force Microscopy
Shen, Q., Edler, M., Grießer, T., Knall, A.-C., Trimmel, G., Kern, W. & Teichert, C., 2014, in: Scanning. 36, S. 590-598Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Epitaxially grown films of standing and lying pentancene molecules on Cu(110) surfaces
Djuric, T., Flesch, H.-G., Ules, T., Berkebile, S., Koller, G., Plank, H., Shen, Q., Teichert, C., Ramsey, M. G. & Resel, R., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Epitaxially Grown Films of Standing and Lying Pentacene Molecules on Cu(110) Surfaces
Djuric, T., Ules, T., Flesch, H.-G., Plank, H., Shen, Q., Teichert, C., Resel, R. & Ramsey, M. G., 2011, in: Crystal growth & design. 11, S. 1015-1020Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Dynamics of Monolayer–Island Transitions in 2,7-Dioctylbenzothienobenzthiophene Thin Films
Dohr, M., Werzer, O., Shen, Q., Salzmann, I., Teichert, C., Ruzié, C., Schweicher, G., Geerts, H., Sferrazza, M. & Resel, R., 2013, in: CHEMPHYSCHEM. 14, S. 2554-2559Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Flesch, H.-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Kratzer, M., Flesch, H.-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Chemical sensitivity on patterned organic thin films by FFM
Shen, Q., Hlawacek, G., Teichert, C., Lex, A., Trimmel, G. & Kern, W., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Chemical sensitivity on patterned organic thin films by FFM
Shen, Q., Hlawacek, G., Teichert, C., Lex, A., Trimmel, G. & Kern, W., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Chemically and Photochemically Reactive Siloxane Layers for Modification of Inorganic Surfaces
Lex, A., Pacher, P., Temmel, S., Shen, Q., Hlawacek, G., Werzer, O., Track, A. M., Frank, P., Proschek, V., Schennach, R., Koller, G., Ramsey, M. G., Teichert, C., Resel, R., Winkler, A., Zojer, E., Kern, W. & Trimmel, G., 2007, Chemically and Photochemically Reactive Siloxane Layers for Modification of Inorganic Surfaces. Materials Research Society : MRS, S. 231-231Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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C-AFM and FFM measurements of tribological samples
Shen, Q. & Teichert, C., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)