Maximilian Schiester
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Publikationen
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fs-laser preparation of half grid specimens for atom probe tomography and transmission electron microscopy
Tkadletz, M., Schiester, M., Waldl, H., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Juni 2024, in: Materials Today Communications. 39.2024, June, 6 S., 108672.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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State-of-the-art and future directions of fs-laser assisted specimen preparation techniques for atom probe tomography measurements
Tkadletz, M., Schiester, M., Renk, O. & Schalk, N., 24 Juli 2024, in: Microscopy and microanalysis. 30.2024, Supplement 1, S. 89-90 2 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Decomposition of CrN induced by laser-assisted atom probe tomography
Waldl, H., Hans, M., Schiester, M., Primetzhofer, D., Burtscher, M., Schalk, N. & Tkadletz, M., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 8 S., 113673.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
