Maximilian Schiester
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Publikationen
- 2024
- Veröffentlicht
fs-laser preparation of half grid specimens for atom probe tomography and transmission electron microscopy
Tkadletz, M., Schiester, M., Waldl, H., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Juni 2024, in: Materials Today Communications. 39.2024, June, 6 S., 108672.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Nanocomposite versus solid solution formation in the TiSiN system
Schalk, N., Moritz, Y., Nayak, G. K., Holec, D., Hugenschmidt, C., Burwitz, V. V., Mathes, L., Schiester, M., Saringer, C., Czettl, C., Pohler, M., Mitterer, C. & Tkadletz, M., 30 Mai 2024, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 275.2024, 15 August, 10 S., 120063.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Influence of multiple detection events on compositional accuracy of TiN coatings in atom probe tomography
Schiester, M., Waldl, H., Hans, M., Thuvander, M., Primetzhofer, D., Schalk, N. & Tkadletz, M., 15 Feb. 2024, in: Surface & coatings technology. 477.2024, 15 February, 11 S., 130318.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Advancements in elemental analysis of Ti(C,N) coatings using atom probe tomography
Schiester, M., 2024Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Masterarbeit
- Veröffentlicht
Annealing activated substrate element diffusion and its influence on the microstructure and mechanical properties of CVD TiN/TiCN coatings
Konstantiniuk, F., Schiester, M., Tkadletz, M., Czettl, C. & Schalk, N., 2024, in: Surface & coatings technology. 488.2024, 30 July, 6 S., 131079.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2023
- Veröffentlicht
Is it meaningful to quantify vacancy concentrations of nanolamellar (Ti,Al)N thin films based on laser-assisted atom probe data?
Hans, M., Tkadletz, M., Primetzhofer, D., Waldl, H., Schiester, M., Bartosik, M., Czettl, C., Schalk, N., Mitterer, C. & Schneider, J. M., 25 Nov. 2023, in: Surface & coatings technology. 473.2023, 25 November, 11 S., 130020.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Decomposition of CrN induced by laser-assisted atom probe tomography
Waldl, H., Hans, M., Schiester, M., Primetzhofer, D., Burtscher, M., Schalk, N. & Tkadletz, M., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 8 S., 113673.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Efficient preparation of microtip arrays for atom probe tomography using fs-laser processing
Tkadletz, M., Waldl, H., Schiester, M., Lechner, A., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 5 S., 113672.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Spatially resolved peak decomposition of 3D atom probe tomography datasets
Schiester, M., Konstantiniuk, F., Schalk, N. & Tkadletz, M., 2023.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
