Maximilian Schiester
Publikationen
- 2025
- Veröffentlicht
Effects of laser wavelength and pulse energy on the evaporation behavior of TiN coatings in atom probe tomography: A multi-instrument study
Schiester, M., Waldl, H., Rice, K. P., Hans, M., Primetzhofer, D., Schalk, N. & Tkadletz, M., 17 Jan. 2025, in: Ultramicroscopy. 270.2025, April, 10 S., 114105.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2024
- Veröffentlicht
Reliable Atom Probe Tomography of Cu Nanoparticles Through Tailored Encapsulation by an Electrodeposited Film
Cicek, A., Knabl, F., Schiester, M., Waldl, H., Rafailovic, L., Tkadletz, M. & Mitterer, C., 30 Dez. 2024, in: Nanomaterials. 15.2025, 1, 13 S., 43.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
State-of-the-art and future directions of fs-laser assisted specimen preparation techniques for atom probe tomography measurements
Tkadletz, M., Schiester, M., Renk, O. & Schalk, N., 24 Juli 2024, in: Microscopy and microanalysis. 30.2024, Supplement 1, S. 89-90 2 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
fs-laser preparation of half grid specimens for atom probe tomography and transmission electron microscopy
Tkadletz, M., Schiester, M., Waldl, H., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Juni 2024, in: Materials Today Communications. 39.2024, June, 6 S., 108672.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Nanocomposite versus solid solution formation in the TiSiN system
Schalk, N., Moritz, Y., Nayak, G. K., Holec, D., Hugenschmidt, C., Burwitz, V. V., Mathes, L., Schiester, M., Saringer, C., Czettl, C., Pohler, M., Mitterer, C. & Tkadletz, M., 30 Mai 2024, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 275.2024, 15 August, 10 S., 120063.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Influence of multiple detection events on compositional accuracy of TiN coatings in atom probe tomography
Schiester, M., Waldl, H., Hans, M., Thuvander, M., Primetzhofer, D., Schalk, N. & Tkadletz, M., 15 Feb. 2024, in: Surface & coatings technology. 477.2024, 15 February, 11 S., 130318.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Advancements in elemental analysis of Ti(C,N) coatings using atom probe tomography
Schiester, M., 2024Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Masterarbeit
- Veröffentlicht
Annealing activated substrate element diffusion and its influence on the microstructure and mechanical properties of CVD TiN/TiCN coatings
Konstantiniuk, F., Schiester, M., Tkadletz, M., Czettl, C. & Schalk, N., 2024, in: Surface & coatings technology. 488.2024, 30 July, 6 S., 131079.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Chemical vapor deposited TiCN/TiC multilayer coatings: On the interplay between coating architecture and mechanical properties
Kainz, C., Tkadletz, M., Maier-Kiener, V., Völker, B., Burtscher, M., Waldl, H., Schiester, M., Thurner, J., Czettl, C. & Schalk, N., 2024, in: International journal of refractory metals & hard materials. 2024, 125, S. 1-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2023
- Veröffentlicht
Is it meaningful to quantify vacancy concentrations of nanolamellar (Ti,Al)N thin films based on laser-assisted atom probe data?
Hans, M., Tkadletz, M., Primetzhofer, D., Waldl, H., Schiester, M., Bartosik, M., Czettl, C., Schalk, N., Mitterer, C. & Schneider, J. M., 25 Nov. 2023, in: Surface & coatings technology. 473.2023, 25 November, 11 S., 130020.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
