Maximilian Schiester
(Ehemalig)
1 - 7 von 7Seitengröße: 10
Publikationen
- 2024
- Veröffentlicht
Influence of multiple detection events on compositional accuracy of TiN coatings in atom probe tomography
Schiester, M., Waldl, H., Hans, M., Thuvander, M., Primetzhofer, D., Schalk, N. & Tkadletz, M., 15 Feb. 2024, in: Surface & coatings technology. 477.2024, 15 February, 11 S., 130318.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nanocomposite versus solid formation in the TiSiN system
Schalk, N., Moritz, Y., Nayak, G. K., Holec, D., Hugenschmidt, C., Burwitz, V. V., Mathes, L., Schiester, M., Saringer, C., Czettl, C., Pohler, M., Mitterer, C. & Tkadletz, M., 2024, in: Acta materialia. 2024, 275, S. 1-10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
fs-laser preparation of half grid specimens for atom probe tomography and transmission electron microscopy
Tkadletz, M., Schiester, M., Waldl, H., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., 2024, in: Materials Today Communications. 2024, 39, S. 1-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2023
- Veröffentlicht
Is it meaningful to quantify vacancy concentrations of nanolamellar (Ti,Al)N thin films based on laser-assisted atom probe data?
Hans, M., Tkadletz, M., Primetzhofer, D., Waldl, H., Schiester, M., Bartosik, M., Czettl, C., Schalk, N., Mitterer, C. & Schneider, J. M., 25 Nov. 2023, in: Surface & coatings technology. 473.2023, 25 November, 11 S., 130020.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Decomposition of CrN induced by laser-assisted atom probe tomography
Waldl, H., Hans, M., Schiester, M., Primetzhofer, D., Burtscher, M., Schalk, N. & Tkadletz, M., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 8 S., 113673.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Efficient preparation of microtip arrays for atom probe tomography using fs-laser processing
Tkadletz, M., Waldl, H., Schiester, M., Lechner, A., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 5 S., 113672.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Spatially resolved peak decomposition of 3D atom probe tomography datasets
Schiester, M., Konstantiniuk, F., Schalk, N. & Tkadletz, M., 2023.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung