Maximilian Schiester

(Ehemalig)

Publikationen

  1. 2024
  2. Veröffentlicht

    Influence of multiple detection events on compositional accuracy of TiN coatings in atom probe tomography

    Schiester, M., Waldl, H., Hans, M., Thuvander, M., Primetzhofer, D., Schalk, N. & Tkadletz, M., 15 Feb. 2024, in: Surface & coatings technology. 477.2024, 15 February, 11 S., 130318.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Nanocomposite versus solid formation in the TiSiN system

    Schalk, N., Moritz, Y., Nayak, G. K., Holec, D., Hugenschmidt, C., Burwitz, V. V., Mathes, L., Schiester, M., Saringer, C., Czettl, C., Pohler, M., Mitterer, C. & Tkadletz, M., 2024, in: Acta materialia. 2024, 275, S. 1-10

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    fs-laser preparation of half grid specimens for atom probe tomography and transmission electron microscopy

    Tkadletz, M., Schiester, M., Waldl, H., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., 2024, in: Materials Today Communications. 2024, 39, S. 1-6

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. 2023
  6. Veröffentlicht

    Is it meaningful to quantify vacancy concentrations of nanolamellar (Ti,Al)N thin films based on laser-assisted atom probe data?

    Hans, M., Tkadletz, M., Primetzhofer, D., Waldl, H., Schiester, M., Bartosik, M., Czettl, C., Schalk, N., Mitterer, C. & Schneider, J. M., 25 Nov. 2023, in: Surface & coatings technology. 473.2023, 25 November, 11 S., 130020.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Decomposition of CrN induced by laser-assisted atom probe tomography

    Waldl, H., Hans, M., Schiester, M., Primetzhofer, D., Burtscher, M., Schalk, N. & Tkadletz, M., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 8 S., 113673.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Efficient preparation of microtip arrays for atom probe tomography using fs-laser processing

    Tkadletz, M., Waldl, H., Schiester, M., Lechner, A., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 5 S., 113672.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht