Markus Kratzer
Publikationen
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Growth morphologies and thermalization pathways of nitrogen based oligoacene derivatives on (0001) sapphire
Cicek, A., Matkovic, A., Kratzer, M. & Teichert, C., 18 Dez. 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Effects of hole-transport layer homogeneity in organic solar cells – A multi-length scale study
Chien, H.-T., Pölzl, M., Koller, G., Challinger, S., Fairbairn, C., Baikie, I., Kratzer, M., Teichert, C. & Friedel, B., 2017, in: Surfaces and Interfaces. 6.2017, March, S. 72-80 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Molecular Structure and Electronic Properties of para-Hexaphenyl Monolayer on Atomically Flat Rutile TiO2(110)
Belza, W., Szajna, K., Kratzer, M., Wrana, D., Cieslik, K., Krawiec, M., Teichert, C. & Krok, F., 12 März 2020, in: Journal of Physical Chemistry C. 124.2020, 10, S. 5681-5689 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Growth of ultra-thin para-hexaphenyl layers on atomically-flat TiO2(110) surfaces
Belza, W., Szajna, K., Wrana, D., Kratzer, M., Teichert, C. & Krok, F., 25 Feb. 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
