Markus Kratzer
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Publikationen
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A theoretical study of Zn adsorption and desorption on a Pd(111) substrate
Koch, H. P., Bako, I., Weirum, G., Kratzer, M. & Schennach, R., 2010, in: Surface Science. 604, S. 926-931Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2014, in: Chemie-Ingenieur-Technik. 86, S. 857-864Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic force microscopy based manipulation of graphene using dynamic plowing lithography
Vasić, B., Kratzer, M., Matković, A., Nevosad, A., Ralević, U., Jovanović, D., Ganser, C., Teichert, C. & Gajić, R., 2013, in: Nanotechnology. 24, S. 015303-015303Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Biased KPFM of two ZnO Varistors
Kratzer, M. & Teichert, C., 2014Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Biased KPFM of ZnO MLVs with/without galvanization
Kratzer, M. & Teichert, C., 2014Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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CdS Nanosize Single Crystals Growth and Morphology, Piezoelectric Properties and Prospects for Piezotronics
Grynko, D. O., Bortchagovsky, E., Doroshenko, T., Rachkov, A., Styopkin, V., Hesser, G., Kratzer, M. & Teichert, C., 18 Juli 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Charge behavior on insulating monocrystallic surfaces by Kelvin probe force microscopy
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Charging behavior of the calcite (100) surface investigated by KPFM
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
