Markus Kratzer
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Publikationen
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Iron-rich talc as air-stable platform for magnetic two-dimensional materials
Matkovic, A., Ludescher, L., Peil, O. E., Sharma, A., Gradwohl, K.-P., Kratzer, M., Zimmermann, M., Genser, J., Fisslthaler, E., Knez, D., Gammer, C., Lugstein, A., Bakker, R. J., Romaner, L., Zahn, D. R. T., Hofer, F., Salvan, G., Raith, J. & Teichert, C., 21 Dez. 2021, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: npj 2D materials and applications. 2021, 5, 9 S., 94.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Light-Assisted Charge Propagation in Networks of Organic Semiconductor Crystallites on Hexagonal Boron Nitride
Matković, A., Genser, J., Kratzer, M., Lüftner, D., Chen, Z., Siri, O., Puschnig, P., Becker, C. & Teichert, C., 19 Sept. 2019, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Advanced functional materials. 29.2019, 43, 1903816.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Single-step fabrication and work function engineering of Langmuir-Blodgett assembled few-layer graphene films with Li and Au salts
Milošević, I. R., Vasić, B., Matković, A., Vujin, J., Aškrabić, S., Kratzer, M., Griesser, T., Teichert, C. & Gajić, R., 21 Mai 2020, in: Scientific reports. 10.2020, 1, 12 S., 8476.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Charge behavior on insulating monocrystallic surfaces by Kelvin probe force microscopy
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2014, in: Chemie-Ingenieur-Technik. 86, S. 857-864Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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The contact charging of insulators by atomic force microscopy
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Kelvin probe force microscopy investigations of the contact charging of single crystalline insulators
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Charging behavior of the calcite (100) surface investigated by KPFM
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Principal Factors of Contact Charging of Minerals for a Successful Triboelectrostatic Separation Process – a Review
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2016, in: Berg- und hüttenmännische Monatshefte : BHM. 161, 8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung
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Investigating inhomogeneous electronic properties of radial junction solar cells using correlative microscopy
Mueller, M., Hyvl, M., Kratzer, M., Teichert, C., Misra, S., Foldyna, M., Yu, L., Cabarrocas, P. R. I., Itoh, T., Hajkova, Z., Vetushka, A., Ledinsky, M., Kocka, J. & Fejfar, A., Aug. 2015, in: Japanese Journal of Applied Physics. 54, 8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
