Karl Christian Teichert
Publikationen
- 2011
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Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics
Teichert, C. & Beinik, I., 2011, Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2. S. 691-721Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Contact angle and AFM roughness measurements of polymer coated steel samples
Lugger, M. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Contact angle measurements on coated samples
Ganser, C., Schmied, F. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Determination of critical island size in para-sexiphenyl islands on SiO2 using capture-zone scaling
Lorbek, S., Teichert, C. & Hlawacek, G., 2011, in: European physical journal, The / Applied physics : EPJ. 55, S. 23902-1-23902-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Diffusion and submonolayer growth of para-sexiphenyl on Ir(111) and Ir(111)-supported graphene
Hlawacek, G., Khokar, F. S., van Gastel, R., Teichert, C. & Poelsema, B., 2011, in: IBM journal of research and development [Elektronische Ressource]. 55, S. 15:1-15:7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Effect of Ge nanoislandson lateral photoconductivity of Ge-SiOx-Si structures
Lysenko, V. S., Gomeniuk, Y. V., Kozyrev, Y. N., Rubezhanska, M. Y., Sklyar, V. K., Kondratenko, S. V., Melnichuk, Y. Y. & Teichert, C., 2011, Nanoscaled Semiconductor-on-Insulator Materials, Sensors and Devices: selected, peer reviewed papers from the 6th International Workshop on Semiconductor-on-Insulator Materials and Devices, 24 - 28 October, 2010 Kyiv, Ukraine . S. 179-186 (Advanced materials research; Band 276).Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical Transport of Single ZnO Nanorods studied by Photo- Conductive AFM
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Elektrische Eigenschaften von Dünnfilmen auf der Nanoskala
Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Epitaxially Grown Films of Standing and Lying Pentacene Molecules on Cu(110) Surfaces
Djuric, T., Ules, T., Flesch, H.-G., Plank, H., Shen, Q., Teichert, C., Resel, R. & Ramsey, M. G., 2011, in: Crystal growth & design. 11, S. 1015-1020Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
