Karl Christian Teichert
Publikationen
- Veröffentlicht
Replication of Stochastic and Geometric Micro Structures. Aspects of Visual Appearance
Berger, G., Gruber, D. P., Friesenbichler, W., Teichert, C. & Burgsteiner, M., 2011, in: International polymer processing. XXVI, S. 313-322Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Reibwerte und Entformungskräfte im konventionellen Spritzguss. Vorhersage durch Grenzflächenspannung?
Berger, G., Friesenbichler, W., Teichert, C., Langecker, G. & Lugger, M., 2013, 22. Leobener Kunststoff-Kolloquium: Oberlfächen und Grenzflächen in der Polymertechnologie. S. 75-89Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Growth of ultra-thin para-hexaphenyl layers on atomically-flat TiO2(110) surfaces
Belza, W., Szajna, K., Wrana, D., Kratzer, M., Teichert, C. & Krok, F., 25 Feb. 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Molecular Structure and Electronic Properties of para-Hexaphenyl Monolayer on Atomically Flat Rutile TiO2(110)
Belza, W., Szajna, K., Kratzer, M., Wrana, D., Cieslik, K., Krawiec, M., Teichert, C. & Krok, F., 12 März 2020, in: Journal of Physical Chemistry C. 124.2020, 10, S. 5681-5689 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm
Beinik, I. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
