Karl Christian Teichert
Publikationen
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Effects of hole-transport layer homogeneity in organic solar cells – A multi-length scale study
Chien, H.-T., Pölzl, M., Koller, G., Challinger, S., Fairbairn, C., Baikie, I., Kratzer, M., Teichert, C. & Friedel, B., 2017, in: Surfaces and Interfaces. 6.2017, March, S. 72-80 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Hierarchical Surface Pattern on Ni‐Free Ti‐Based Bulk Metallic Glass to Control Cell Interactions
Cai, F., Blanquer, A., Costa, M. B., Schweiger, L., Sarac, B., Greer, A. L., Schroers, J., Teichert, C., Nogués, C., Spieckermann, F. & Eckert, J., 18 Dez. 2023, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Small. 29.2024, 22, 12 S., 2310364.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Chromium and silicon poisoning of the SOFC cathode material La0.6Sr0.4CoO3-δ
Bucher, E., Schrödl, N., Gspan, C., Egger, A., Ganser, C., Teichert, C., Hofer, F. & Sitte, W., 23 Sept. 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung
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Non-destructive characterization of vertical ZnO nanowire arrays by slow positron implantation spectroscopy, atomic force microscopy, and nuclear reaction analysis
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Skorupa, W., Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Tam, K. H. & Djurisic, A. B., 2007, in: Nanotechnology. 18, S. 195301-1-195301-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Brauer, G., Anwand, W., Eichhorn, E., Skorupa, W., Hofer, C., Teichert, C., Kuriplach, J., Cizek, J., Prochazka, I., Coleman, P. G., Nozawa, T. & Kohyama, A., 2006, in: Applied surface science. 252, S. 3342-3351Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Beinik, I., Wang, L., Teichert, C., Kuriplach, J., Djurisic, A. & Skorupa, W., 2009, in: Physica status solidi / C. 6, S. 2556-2560Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of 6H-SiC surfaces after ion implantation and annealing using positron annihilation spectroscopy and atomic force microscopy
Brauer, G., Anwand, W., Skorupa, W., Brandstetter, S. & Teichert, C., 2006, in: Journal of applied physics. 99, S. 023523-1-023523-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical monitoring of organic crystal phase transition using MoS2 field effect transistor
Boulet, I., Pascal, S., Bedu, F., Ozerov, I., Ranguis, A., Leoni, T., Becker, C., Masson, L., Matkovic, A., Teichert, C., Siri, O., Attaccalite, C., Huntzinger, J. R., Paillet, M., Zahab, A. & Parret, R., 14 Feb. 2023, in: Nanoscale advances. 5.2023, 6, S. 1681-1690 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Self-Organized Hexagonal Patterns of Independent Magnetic Nanodots
Bobek, T., Mikuszeit, N., Camarero, J., Kyrsta, S., Yang, L., Nino, M. A., Hofer, C., Gridneva, L., Arvanitis, D., Miranda, R., de Miguel, J. J., Teichert, C. & Kurz, H., 2007, in: Advanced materials. 19, S. 4375-4380Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Diffusion versus sticking anisotropy: anisotropic growth of organic molecular films
Berkebile, S., Koller, G., Hlawacek, G., Teichert, C., Netzer, F. P. & Ramsey, M. G., 2006, in: Surface Science. 600, S. L313-L317Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
