Karl Christian Teichert
61 - 70 von 507Seitengröße: 10
Publikationen
- Veröffentlicht
Characterisation of nanostructures induced by slow highly charged ion bombardment of HOPG
Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of 6H-SiC surfaces after ion implantation and annealing using positron annihilation spectroscopy and atomic force microscopy
Brauer, G., Anwand, W., Skorupa, W., Brandstetter, S. & Teichert, C., 2006, in: Journal of applied physics. 99, S. 023523-1-023523-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of antiphase domains on GaAs grown on Ge substrates by conductive atomic force microscopy for photovoltaic applications
Galiana, B., Rey-Stolle, I., Beinik, I., Teichert, C., Algora, C., Molina-Aldareguia, J. M. & Tejedor, P., 2011, in: Solar energy materials and solar cells. 95, S. 1949-1954Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Brauer, G., Anwand, W., Eichhorn, E., Skorupa, W., Hofer, C., Teichert, C., Kuriplach, J., Cizek, J., Prochazka, I., Coleman, P. G., Nozawa, T. & Kohyama, A., 2006, in: Applied surface science. 252, S. 3342-3351Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of cellulose fiber surfaces
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of cellulose fiber surfaces and cross-sections using atomic force microscopy
Hosemann, P., Schmied, F., Teichert, C. & Schuster, K. C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy
Teichert, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001)
Teichert, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of Phospholipid Bilayers on Ti-6Al-4V and Ti-6Al-7Nb
Pressl, D., Teichert, C., Hlawacek, G., Clemens, H., Iliev, P. P., Schuster, A., Feyerabend, F. & Willumeit, R., 2008, in: Advanced engineering materials. 10, S. B47-B52Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
