Karl Christian Teichert
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Publikationen
- 2009
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Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films
Pavitschitz, A., Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Schwabegger, G., Sitter, H., Simbrunner, C., Grießer, T. & Kern, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)
Tejedor, P., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2009, in: Applied physics letters. 95, S. 123103-1-123103-3Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Defektbildung und Ladungsträgereinfang in epitaktisch gewachsenen organischen Nanostrukturen
Teichert, C., 2009Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Flesch, H.-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Ehrlich Schwoebel barriers in organic thin film growth
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Elektrische Eigenschaften von Dünnfilmen auf der Nanoskala
Teichert, C., 2009Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Exploring fundamental growth morphologies in organic thin film systems
Teichert, C., 2009Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Hierarchy of adhesion forces in patterns of photoreactive surface layers
Hlawacek, G., Shen, Q., Teichert, C., Lex, A., Trimmel, G. & Kern, W., 2009, in: Journal of chemical physics (The journal of chemical physics). 130, S. 44703-1-44703-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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High Resolution RBS on High-k Dielectrics
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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In situ characterization of near surface-surface processes with special focus on surface sensitive electron microscopy methods (PEEM/LEEM)
Teichert, C. (Herausgeber), 2009, Eigenverlag.Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung
