David Holec
Publikationen
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Computer-aided modelling ranging from quantum, via atomistic to continuum level is used to support and interpret experimental observations, as well as to explore new basic-research areas
Holec, D., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Continuum modeling of van der Waals interactions between carbon onion layers
Todt, M., Rammerstorfer, F. G., Fischer, F. D., Mayrhofer, P. H., Holec, D. & Hartmann, M., 2011, in: Carbon. 49, S. 1620-1627Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Controlling microstructure, preferred orientation, and mechanical properties of Cr-Al-N by bombardment and alloying with Ta
Hollerweger, R., Zhou, L., Holec, D., Koller, C., Rachbauer, R., Polcik, P. & Mayrhofer, P. H., 2016, in: Journal of applied physics. 119, S. 1-8 8 S., 119.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung
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Correlating point defects with mechanical properties in nanocrystalline TiN thin films
Zhang, Z., Ghasemi, A., Koutná, N., Xu, Z., Grünstäudl, T., Song, K., Holec, D., He, Y., Mayrhofer, P. H. & Bartosik, M., Sept. 2021, in: Materials and Design. 207.2021, September, S. 1-10 109844.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Correlating structural and mechanical properties of AlN / TiN superlattice films
Koutná, N., Rehák, P., Chen, Z., Bartosik, M., Fallmann, M., Cerny, M., Zhang, Z., Friák, M., Šob, M., Mayrhofer, P. H. & Holec, D., 1 Mai 2019, in: Scripta materialia. 165.2019, May, S. 159-163 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Corrigendum to “Stabilization of Al3Zr allotropes in dilute aluminum alloys via the addition of ternary elements” [Materialia 21 (2022) 101321]
Schmid, F., Gehringer, D., Kremmer, T., Cattini, L., Uggowitzer, P., Holec, D. & Pogatscher, S., Juni 2023, in: Materialia. 29.2023, June, 1 S., 101733.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Entscheidungsbesprechung › (peer-reviewed)
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Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
Coppeta, R. A., Ceric, H., Holec, D. & Grasser, T., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
Coppeta, R. A., Ceric, H., Holec, D. & Grasser, T., 2013, Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW), 2013 IEEE International. S. 133-136Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Crystallographic orientation dependent maximum layer thickness of cubic AlN in CrN / AlN multilayers
Chen, Z., Holec, D., Bartosik, M., Mayrhofer, P. H. & Zhang, Z., 2019, in: Acta materialia. 168.2019, 15 April, S. 190-202 13 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Curvature-induced excess surface energy of fullerenes: Density functional theory and Monte Carlo simulations
Holec, D., Hartmann, M. A., Fischer, F. D., Rammerstorfer, F. G., Mayrhofer, P. H. & Paris, O., 2 Juni 2010, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 81, 23, S. 2354031-23540310Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
