Daniel Kiener
Publikationen
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Source rock assessment from basin- to nano-scale: A case study from the Ukrainian Dniepr-Donets Basin
Misch, D., Groß, D., Klaver, J., Schmatz, J., Sachsenhofer, R., Bechtel, A., Maier-Kiener, V., Kiener, D. & Mendez Martin, F., März 2017.Publikationen: Konferenzbeitrag › Abstract/Zusammenfassung › (peer-reviewed)
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Investigating mechanical properties of silicon carbide coated carbon nanotube composite at elevated temperatures
Mo, J., Schaffar, G. J. K., Du, L., Maier-Kiener, V., Kiener, D., Vollebregt, S. & Zhang, G., 2024, 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS). Band 37.2024. S. 626-629 4 S. (IEEE access).Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Sample Preparation by Metallography and Focused Ion Beam for Nanomechanical Testing
Moser, G., Felber, H., Rashkova, B., Imrich, P. J., Kirchlechner, C., Grosinger, W., Motz, C., Dehm, G. & Kiener, D., 2012, in: Practical metallography = Praktische Metallographie. 49, S. 343-355Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Influence of Yttrium on the Thermal Stability of Ti-Al-N Thin Films
Moser, M., Kiener, D., Scheu, C. & Mayrhofer, P. H., 2010, in: Materials. 3, S. 1573-1592Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 199-200Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentations using FIB, EBSD and TEM
Motz, C., Kiener, D., Kreuzer, H., Prantl, W. & Pippan, R., 2004, Proceedings of the 25th Risø International Symposium on Materials Science: Evolution of Deformation Microstructures in 3D. S. 459-464Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentaions
Motz, C., Kiener, D., Kreuzer, H., Prantl, W. & Pippan, R., 2005, Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentaions. S. 459-464Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Fokussierte Ionenstrahl-Technik (FIB) in der Mikro- und Nanomechanik
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 162-163Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Micron beam bending and compression tests - micromechanical properties of copper
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T. & Dehm, G., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Size-Induced Transition from Perfect to Partial Dislocation Plasticity in Single Crystal Au Films on Polyimide
Oh, S. H., Legros, M., Kiener, D., Gruber, P. A. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 278-279Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
