Departments und Lehrstühle

Organisation: Departments and Institute

Publikationen

  1. Veröffentlicht
  2. Veröffentlicht

    X-ray fluorescence raw intensities vs. concentration data for multivariate classification of hungarian coal

    Rachetti, A., Wegscheider, W. & Borszéki, J., 1986, in: Analytica chimica acta. 191, C, S. 219-226 8 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods

    Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    X-ray diffraction study of anthracene under high pressure

    Oehzelt, M., Resel, R., Hummer, K., Puschnig, P., Draxl, C. & Nakayama, A., 2003, in: Synthetic Metals. 137, S. 913-914

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    X-ray diffraction of Pentacene on organic dielectrics

    Moser, A., Flesch, H.-G., Neuhold, A., Edler, M., Grießer, T., Marchl, M., Trimmel, G., Golubkov, A., Haase, A., Smilgies, D.-M., Zojer, E. & Resel, R., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    X-ray Diffraction Computed Nanotomography Applied to Solve the Structure of Hierarchically Phase-Separated Metallic Glass

    Stoica, M., Sarac, B., Spieckermann, F., Wright, J., Gammer, C., Han, J., Gostin, P. F., Eckert, J. & Löffler, J. F., 29 Jan. 2021, in: ACS nano. 15.2021, 2, S. 2386-2398 13 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel

    Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    X-ray Curing of Organic Bonded High Temperature Resistant Ceramics

    Puchleitner, R., 2016

    Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und HabilitationsschriftenDissertation

  9. Veröffentlicht

    X-Ray computed tomography – Potenials, expectations and limits in practical application

    Schindelbacher, G., Pabel, T. & Geier, G., 2007, in: Casting plant and technology international. S. 34-41

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    X-ray characterization of semiconductor nanostructures

    Holy, V., Buljan, M. & Lechner, R. T., 2011, in: Semiconductor science and technology. 26, S. 064002/1- 064002/7

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)