Departments und Lehrstühle
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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XIV.Medunarodni Simpozij Gospodarenje Otpadom Zagreb 2016
Sarc, R. & Pomberger, R., 28 Nov. 2016, XIV.Medunarodni Simpozij Gospodarenje Otpadom Zagreb 2016. Anic Vucinin, A. (Hrsg.). Sv. I. Zelina, S. 56 - 57 13 S.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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X-Legierungen: Ein großer Schritt in Richtung Einheitslegierung
Stemper, L., 2020, AluReport. Band 02.2020. S. 40-43Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Sonstiger Beitrag › Forschung
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xP-frag, a distribution-free model to predict blast fragmentation
Sanchidrián, J. A. & Ouchterlony, F., 29 Jan. 2017, Proc 43rd ISEE Conference on Explosives and Blasting Technique. Cleveland, OH, Band 43. S. 265-280 16 S.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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xP-frag: a new model to predict fragmentation from blasting
Sanchidrián, J. A. & Ouchterlony, F., 2017, APS Blasting 5; New development on engineerign blasting: Proc 5th Asia-Pacific Symposium on Blasting Techniques . Wang, X. (Hrsg.). Beijing, China, S. 31-36 6 S.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray based tools for the investigation of buried interfaces in organic electronic devices
Neuhold, A., Brandner, H., Ausserlechner, S. J., Lorbek, S., Neuschitzer, M., Zojer, E., Teichert, C. & Resel, R., 2013, in: Organic electronics. 14, S. 479-487Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray characterization of semiconductor nanostructures
Holy, V., Buljan, M. & Lechner, R. T., 2011, in: Semiconductor science and technology. 26, S. 064002/1- 064002/7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-Ray computed tomography – Potenials, expectations and limits in practical application
Schindelbacher, G., Pabel, T. & Geier, G., 2007, in: Casting plant and technology international. S. 34-41Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray Curing of Organic Bonded High Temperature Resistant Ceramics
Puchleitner, R., 2016Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
