Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Concept for a General Formulation of Simulation Models
Oberaigner, E., 1986Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Concepts for E-Assessments in STEM on the Example of Engineering Mechanics: How to Assess Complex EngineeringProblemsElectronically
Orthaber, M., Stütz, D., Antretter, T. & Ebner, M., 26 Juni 2020, in: International journal emerging technologies in learning : iJET. 15.2020, 12, S. 136-152 17 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Condition Monitoring and Damage Prediction in Railway Applications
Velic, D., 2022Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Conductance and Temperature Measurement System for 1500°C Metallurgical Slag
Korp, J., Maier, W., Schmid, A. & Weiß, H., 2004, Proceedings of the 7th International Symposium on Actual Problems of Eelctronic Instrument Engineering. S. 178-182Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Conductance fluctuations in PbTe wide parabolic quantum wells
Oswald, J., Heigl, G., Span, G., Homer, A., Ganitzer, P., Maude, D. K. & Portal, J. C., 1996, in: Physica B: Condensed Matter. 227, 1, S. 360-362Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductance Fluctuations in PbTe Wide Parabolic Quantum Wells
Oswald, J., Heigl, G., Span, G., Homer, A., Ganitzer, P., Maude, D. K. & Portal, J. C., 1995.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive AFM investigations of self-patterned InGaAs/GaAs(110) nanostructures
Beinik, I., Teichert, C., Díez-Merino, L. & Tejedor, P., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive-AFM measurements on cross sectional samples
Andreev, A. & Teichert, C., 2005Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics
Teichert, C. & Beinik, I., 2011, Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2. S. 691-721Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films
Pavitschitz, A., Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Schwabegger, G., Sitter, H., Simbrunner, C., Grießer, T. & Kern, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
