Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Island shape anisotropy in organic thin film growth induced by ion-beam irradiated rippled surfaces
Kratzer, M., Wrana, D., Szajna, K., Krok, F. & Teichert, C., 2014, in: Physical chemistry, chemical physics : PCCP. 16, 47, S. 26112-26118Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Growth of para-hexaphenyl (p6P) on SiO2 by hot wall epitaxy
Kratzer, M., Shen, Q. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Biased KPFM of two ZnO Varistors
Kratzer, M. & Teichert, C., 2014Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Electrical Transport of Single ZnO Nanorods studied by Photo- Conductive AFM
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical and photovoltaic properties of self assembled Ge nanodomes on Si(001)
Kratzer, M., Prehal, C., Rubezhanska, M., Beinik, I., Kondratenko, S., Kozyrev, Y. & Teichert, C., 2012, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 86, S. 245320-1-245320-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Dynamic plowing lithography and 6P thin film growth on graphene investigated by atomic force microscopy
Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Growth of para-hexaphenyl thin films on graphene:an AFM study
Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical Transport in Individual ZnO Nanorods Studied by Photo-Conductive Atomic-Force Microscopy
Kratzer, M., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2
Kratzer, M., Klima, S., Beinik, I., Shen, Q., Lugstein, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Biased KPFM of ZnO MLVs with/without galvanization
Kratzer, M. & Teichert, C., 2014Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
