Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik

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Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Mechanical Characterization of Hierarchical Structured Porous Silica by in Situ Dilatometry Measurements during Gas Adsorption

    Balzer, C., Waag, A. M., Putz, F., Huesing, N., Paris, O., Gor, G. Y., Neimark, A. V. & Reichenauer, G., 26 Feb. 2019, in: Langmuir. 35.2019, 8, S. 2948-2956 9 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    Adsorption-Induced Deformation of Hierarchically Structured Mesoporous Silica Effect of Pore-Level Anisotropy

    Balzer, C., Waag, A., Gehret, S., Reichenauer, G., Putz, F., Hüsing, N., Paris, O., Bernstein, N., Gor, G. Y. & Neimark, A. V., 6 Juni 2017, in: Langmuir. 33.2017, 22, S. 5592-5602 11 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    CONTROL OF CARRIER LIFETIMES IN PBTE DOPING SUPERLATTICES

    Bauer, G., Oswald, J., Goltsos, W. & Nurmikko, A., 1988, in: Journal of applied physics. 63, S. 2179-2181

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique

    Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge

    Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods

    Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm

    Beinik, I. & Teichert, C., 2011

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy

    Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration

    Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Conductive AFM investigations of self-patterned InGaAs/GaAs(110) nanostructures

    Beinik, I., Teichert, C., Díez-Merino, L. & Tejedor, P., 2008.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

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