Department Allgemeine, Analytische und Physikalische Chemie
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
- 2000
- Veröffentlicht
Determination of Rare Earth Elements (REE) in geological samples by sodium peroxide sintering and ICP-MS detection
Meisel, T., 2000, in: Agilent ICP-MS Journal. 8, S. 6-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Determination of trace elements in human milk by inductively coupled plasma sector field mass spectrometry (ICP-SFMS)
Prohaska, T. & Stingeder, G., 2000, in: Journal of analytical atomic spectrometry. S. 335-340Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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EFTEM and EELS analysis of a Pt/NiO interface
Grogger, W., Hofer, F., Kraus, B., Rom, I., Sitte, W. & Warbichler, P., 2000, in: Microchimica acta. 133, S. 125-129Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Examination of the performance exhibited by a high resolution magnetic sector ICPMS for uranium isotope abundance ratio measurements over almost 3 orders of magnitudes and down to pg g-1 amount content level
Prohaska, T., Quétel, C. & Taylor, P., 2000, in: Journal of analytical atomic spectrometry. S. 353-358Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Lead isotope ratio analysis in a soil profile by inductively coupled plasma sectorfield mass spectrometry
Prohaska, T., Watkins, M., Latkoczy, C., Wenzel, W. W. & Stingeder, G., 2000, in: Journal of analytical atomic spectrometry. S. 365-370Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Measurement Uncertainty of Osmium-Isotope Ratios. A Call for a Fitness for Purpose Evalution
Meisel, T., Moser, J. & Wegscheider, W., 2000.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Modelling and Estimation of Measurement Errors, by Michèle Neuilly and CETAMA - Commission d´Établissement des Méthodes d´Analyse du Commissariat à l´Énergie Atomique
Wegscheider, W., 2000, in: Accreditation and quality assurance. 6, S. 259-259Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Observation of structural depth profile of porous silicon by atomic force microscopy
Prohaska, T. & Chang, D., 2000, in: Journal of porous materials. S. 349-352Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Oxygen exchange experiments on La0.4Sr0.6CoO3-d at high temperatures
Jantscher, W., Bucher, E., Holzinger, M., Benisek, A., Koppelhuber-Bitschnau, B. & Sitte, W., 2000, Proceedings of the International Conference on "Mass and Charge Transport in Inorganic Materials". S. 129-136Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Oxygen exchange experiments on La0.4Sr0.6CoO3-delta at high temperatures
Jantscher, W., Bucher, E., Holzinger, M., Benisek, A., Koppelhuber-Bitschnau, B. & Sitte, W., 2000, Mass and Charge Transport in Inorganic Materials: Fundamentals to Devices A. S. 129-136Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
