Lehrstuhl für Physik (460)

Organisation: Lehrstuhl

Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001)

    Teichert, C., 2005.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy

    Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Characterization of cellulose type I und type II fibers using Atomic-Force Microscopy

    Schmied, F., 2008

    Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und HabilitationsschriftenDiplomarbeit

  7. Veröffentlicht

    Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy

    Teichert, C., 2005.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Characterization of cellulose fiber surfaces and cross-sections using atomic force microscopy

    Hosemann, P., Schmied, F., Teichert, C. & Schuster, K. C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Characterization of cellulose fiber surfaces

    Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies

    Brauer, G., Anwand, W., Eichhorn, E., Skorupa, W., Hofer, C., Teichert, C., Kuriplach, J., Cizek, J., Prochazka, I., Coleman, P. G., Nozawa, T. & Kohyama, A., 2006, in: Applied surface science. 252, S. 3342-3351

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)