Lehrstuhl für Physik (460)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
- 2001
- Veröffentlicht
Capacitance Measurements on Edge and Bulk States of the 2DES
Brunner, R., Meisels, R. & Kuchar, F., 2001.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Investigations on the conduction electron quantum states in III-V compounds
Meisels, R., 2001Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Habilitationsschrift › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Magnetic field induced metal-to-insulator transition in PbTe wide quantum wells - annual report 2000
Oswald, J., 2001Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Magneto-conductance in dot array system at high-magnetic fields
Aoki, N., Lin, L., Ochiai, Y., Ishibashi, K., Aoyagi, Y., Bird, J. P., Ferry, D. K. & Oswald, J., 2001.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Millimeter wave and DC investigations of spin effects in the 2DES of AlGaAs/GaAs
Meisels, R., Dybko, K., Ziouzia, F. & Kuchar, F., 2001, in: Physica E: Low-dimensional systems & nanostructures. 10, S. 57-61Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Progress Report zu Projekt SE 1401
Oswald, J., 2001Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Scientific report on the visit at Chiba University
Oswald, J., 2001Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- 2002
- Veröffentlicht
35th IUVSTA Workshop “Pattern Formation and Atomic Processes in Epitaxial Growth and Ion Erosion”
Teichert, C. (Herausgeber), 2002, Eigenverlag.Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung
- Veröffentlicht
A drastic change of the effective g-value in nanostructure system: Zeeman attenuator
Aoki, N., Lin, L., Oonishi, D., Kida, M., Iwase, Y., Ishibashi, K., Aoyagi, Y., Bird, J. P., Ferry, D. K., Oswald, J. & Ochiai, Y., 2002, in: Physica B: Condensed Matter. 314, 1, S. 235-238Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy
Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in: Surface and interface analysis. 33, S. 168-172Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
