Lehrstuhl für Physik (460)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
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X-ray characterization of semiconductor nanostructures
Holy, V., Buljan, M. & Lechner, R. T., 2011, in: Semiconductor science and technology. 26, S. 064002/1- 064002/7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Synthesis and Structural Characterization of Nanocellulose-based Composite Films
Holzinger, H., 2020Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Masterarbeit
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A novel transport model for the metal-to-insulator transition in 2- and quasi 3- dimensional wide quantum wells
Homer, A., Ganitzer, P., Span, G. & Oswald, J., 1998.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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A novel transport model for the metal-to-insulator transition in 2- and quasi 3- dimensional wide quantum wells
Homer, A., Ganitzer, P., Span, G. & Oswald, J., 1999, in: Superlattices and microstructures. S. 191-196Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of Zr-Containing Dispersoids in Al–Zn–Mg–Cu Alloys by Small-Angle Scattering
Honaramooz, M., Morak, R., Pogatscher, S., Popovski, G., Kremmer, T., Meisel, T., Österreicher, J. A., Arnoldt, A. & Paris, O., 31 Jan. 2023, in: Materials. 16.2023, 3, 13 S., 1213.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Dispersoid Formation and Distribution in AA7050 Aluminum Ingots
Honaramooz, M. T., 2023Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Optimizing Size and Number Density of Al3Zr Dispersoids in Al–Zn–Mg–Cu Alloys
Honaramooz, M. T., Morak, R. & Paris, O., 16 März 2024, in: Advanced Engineering Materials. 26.2024, 19, 7 S., 2400353.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural, electrical and magnetic measurements on oxide layers grown on 316L exposed to liquid lead–bismuth eutectic
Hosemann, P., Hofer, C., Hlawacek, G., Li, N., Maloy, S. A. & Teichert, C., 2012, in: Journal of nuclear materials. 421, S. 140-146Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of cellulose fiber surfaces and cross-sections using atomic force microscopy
Hosemann, P., Schmied, F., Teichert, C. & Schuster, K. C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Measurements of I-V-characteristics on a cross-sectional PZT sample with conductive AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
