All van der Waals Semiconducting PtSe₂ Field Effect Transistors with Low Contact Resistance Graphite Electrodes

Aslam, M. A., Leitner, S., Tyagi, S., Provias, A., Tkachuk, V., Pavlica, E., Dienstleder, M., Knez, D., Watanabe, K., Taniguchi, T., Yan, D., Shi, Y., Knobloch, T., Waltl, M., Schwingenschlögl, U., Grasser, T. & Matković, A., 24 Mai 2024, in: Nano Letters. 24.2024, 22, S. 6529-6537 9 S.

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Relationship between pore structure and sorption-induced deformation in hierarchical silica-based monoliths

Balzer, C., Morak, R., Erko, M., Triantafillidis, C., Hüsing, N., Gudrun Reichenauer, G. & Paris, O., 15 Jan. 2015, in: Zeitschrift für Physikalische Chemie. 229, S. 1189 1209 S.

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Mechanical Characterization of Hierarchical Structured Porous Silica by in Situ Dilatometry Measurements during Gas Adsorption

Balzer, C., Waag, A. M., Putz, F., Huesing, N., Paris, O., Gor, G. Y., Neimark, A. V. & Reichenauer, G., 26 Feb. 2019, in: Langmuir. 35.2019, 8, S. 2948-2956 9 S.

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Adsorption-Induced Deformation of Hierarchically Structured Mesoporous Silica Effect of Pore-Level Anisotropy

Balzer, C., Waag, A., Gehret, S., Reichenauer, G., Putz, F., Hüsing, N., Paris, O., Bernstein, N., Gor, G. Y. & Neimark, A. V., 6 Juni 2017, in: Langmuir. 33.2017, 22, S. 5592-5602 11 S.

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CONTROL OF CARRIER LIFETIMES IN PBTE DOPING SUPERLATTICES

Bauer, G., Oswald, J., Goltsos, W. & Nurmikko, A., 1988, in: Journal of applied physics. 63, S. 2179-2181

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Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy

Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217

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Erratum: Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy (Journal of Applied Physics (2011) 110 (052005))

Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 1 Okt. 2012, in: Journal of applied physics. 112.2012, 7, 1 S., 079903.

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