Journal of the European Ceramic Society, 0955-2219
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0955-2219 |
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101 - 107 von 107Seitengröße: 10
Publikationen
- 2007
- Veröffentlicht
The Ball on three Balls Test - Strength and Failure Analysis of Different Materials
Danzer, R., Harrer, W., Supancic, P., Lube, T., Wang, Z. & Boerger, A., 2007, in: Journal of the European Ceramic Society. 27, S. 1481-1485Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Threshold Strength Evaluation on an Al2O3-ZrO2 Multilayered System
Bermejo Moratinos, R., Torres, Y., Baudin, C., Sanchez-Herencia, J., Pascual Herrero, J., Anglada, M. & Llanes, L., 2007, in: Journal of the European Ceramic Society. 27, S. 1443-1448Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2006
- Veröffentlicht
Some Notes on the Correlation Between Fracture and defect statistics: Are weibull Statistics Valid for Very Small Specimens
Danzer, R., 2006, in: Journal of the European Ceramic Society. 26, S. 3043-3049Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
Nano-versus macro-hardness of liquid phase sintered SiC
Balog, M., Sagalík, P., Hnatko, M., Lencés, Z., Monteverde, F., Keckes, J. & Huang, J-L., 2005, in: Journal of the European Ceramic Society. 25, S. 529-534Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2001
- Veröffentlicht
Indentation crack profiles in silicon nitride
Lube, T., 1 Feb. 2001, in: Journal of the European Ceramic Society. 21, 2, S. 211-218 8 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 1999
- Veröffentlicht
Preparation and Characterisation of LaNixCo1-xO3 thin films on polycrystalline Al2O3-substrates
Trummer, B., Fruhwirth, O., Reichmann, K., Holzinger, M., Sitte, W. & Pölt, P., 1999, in: Journal of the European Ceramic Society. 19, S. 827-829Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 1998
- Veröffentlicht
Semiconductor Properties of Thin and Thick Film Ga2O3 Ceramic Layers
Feltz, A. & Gamsjäger, E., 1998, in: Journal of the European Ceramic Society. 18, S. 2217-2226Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
