Journal of applied crystallography, 0021-8898
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0021-8898, 1600-5767 |
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Publikationen
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Separation of scattering contributions from carbides and gamma' precipitates in Nimonic 80a by combining small-angle X-ray and neutron scattering
Zickler, G., Tian, B., Lind, C. & Paris, O., 2003, in: Journal of applied crystallography. 36, S. 484-488Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Simultaneous determination of experimental elastic and thermal strains in thin films
Keckes, J., 2005, in: Journal of applied crystallography. 38, S. 311-318Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Symmetry properties and transformation behaviour of the X-ray stress factors
Ortner, B., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 401-409Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Two-dimensional indirect Fourier transformation for evaluation of small-angle scattering data of oriented samples
Fritz-Popovski, G., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1447-1454Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
