Workshop on „In situ characterization of near-surface processes with specific focus on surface sensitive electron microscopy methods (PEEM/LEEM)
Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer Veranstaltung › Konferenzteilnahme
Teilnehmer
- Paul Heinz Mayrhofer - Redner/-in
Datum
2 Okt. 2009
Paul Heinz Mayrhofer - Redner/-in
2 Okt. 2009
Workshop on „In situ characterization of near-surface processes with specific focus on surface sensitive electron microscopy methods (PEEM/LEEM)
| Dauer | 2 Okt. 2009 → … |
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Veranstaltung: Konferenz
