Electrical characterization of semiconductor nanostructutes by Kelvin Probe Force Microscopy and Conductive Atomic Force Microscopy
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in
Teilnehmer
- Christian Teichert - Gastredner
Datum
24 Apr. 2018 → 30 Apr. 2018
Christian Teichert - Gastredner
24 Apr. 2018 → 30 Apr. 2018
Veranstaltung (Konferenz)
| Titel | 5th International Congress on Microscopy and Spectroscopy |
|---|---|
| Abkzg. Titel | InterM |
| Zeitraum | 24/04/18 → 30/04/18 |
| Ort | Fethiye |
| Land/Gebiet | Türkei |
| Bekanntheitsgrad | Internationale Veranstaltung |
