“Advanced AFM based electrical characterization on the nanometer scale”
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in
Teilnehmer
- Christian Teichert - Gastredner
Datum
13 Nov. 2017
Christian Teichert - Gastredner
Seminar, Institute of Applied Physics, Abbe Center of Photonics Friedrich-Schiller-Universität Jena, Germany (Nov. 13)
“Advanced AFM based electrical characterization on the nanometer scale”
“Advanced AFM based electrical characterization on the nanometer scale”
13 Nov. 2017
Veranstaltung (Seminar)
| Titel | Advanced AFM based electrical characterization on the nanometer scale<br/> |
|---|---|
| Zeitraum | 13/11/17 → … |
| Ort | Universität Jena |
| Ort | Jena |
| Land/Gebiet | Deutschland |
| Bekanntheitsgrad | Internationale Veranstaltung |
