Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM)
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Standard
Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM). / Teichert, Christian; Kremmer, Sascha.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 50-51.
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Harvard
Teichert, C & Kremmer, S 2005, Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM). in Handbuch der Nanoanalytik. pp. 50-51.
APA
Teichert, C., & Kremmer, S. (2005). Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM). In Handbuch der Nanoanalytik (pp. 50-51)
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Teichert C, Kremmer S. Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM). In Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 50-51
Author
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TY - CHAP
T1 - Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM)
AU - Teichert, Christian
AU - Kremmer, Sascha
PY - 2005
Y1 - 2005
M3 - Beitrag in Buch/Sammelband
SP - 50
EP - 51
BT - Handbuch der Nanoanalytik
ER -
