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  1. Veröffentlicht

    State-of-the-art and future directions of fs-laser assisted specimen preparation techniques for atom probe tomography measurements

    Tkadletz, M., Schiester, M., Renk, O. & Schalk, N., 24 Juli 2024, in: Microscopy and microanalysis. 30.2024, Supplement 1, S. 89-90 2 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    Spatially resolved peak decomposition of 3D atom probe tomography datasets

    Schiester, M., Konstantiniuk, F., Schalk, N. & Tkadletz, M., 2023.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung

  3. Veröffentlicht

    Reliable Atom Probe Tomography of Cu Nanoparticles Through Tailored Encapsulation by an Electrodeposited Film

    Cicek, A., Knabl, F., Schiester, M., Waldl, H., Rafailovic, L., Tkadletz, M. & Mitterer, C., 30 Dez. 2024, in: Nanomaterials. 15.2025, 1, 13 S., 43.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Nanocomposite versus solid solution formation in the TiSiN system

    Schalk, N., Moritz, Y., Nayak, G. K., Holec, D., Hugenschmidt, C., Burwitz, V. V., Mathes, L., Schiester, M., Saringer, C., Czettl, C., Pohler, M., Mitterer, C. & Tkadletz, M., 30 Mai 2024, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 275.2024, 15 August, 10 S., 120063.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Is it meaningful to quantify vacancy concentrations of nanolamellar (Ti,Al)N thin films based on laser-assisted atom probe data?

    Hans, M., Tkadletz, M., Primetzhofer, D., Waldl, H., Schiester, M., Bartosik, M., Czettl, C., Schalk, N., Mitterer, C. & Schneider, J. M., 25 Nov. 2023, in: Surface & coatings technology. 473.2023, 25 November, 11 S., 130020.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Influence of multiple detection events on compositional accuracy of TiN coatings in atom probe tomography

    Schiester, M., Waldl, H., Hans, M., Thuvander, M., Primetzhofer, D., Schalk, N. & Tkadletz, M., 15 Feb. 2024, in: Surface & coatings technology. 477.2024, 15 February, 11 S., 130318.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    fs-laser preparation of half grid specimens for atom probe tomography and transmission electron microscopy

    Tkadletz, M., Schiester, M., Waldl, H., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Juni 2024, in: Materials Today Communications. 39.2024, June, 6 S., 108672.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Efficient preparation of microtip arrays for atom probe tomography using fs-laser processing

    Tkadletz, M., Waldl, H., Schiester, M., Lechner, A., Schusser, G., Krause, M. & Schalk, N., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 5 S., 113672.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Effects of laser wavelength and pulse energy on the evaporation behavior of TiN coatings in atom probe tomography: A multi-instrument study

    Schiester, M., Waldl, H., Rice, K. P., Hans, M., Primetzhofer, D., Schalk, N. & Tkadletz, M., 17 Jan. 2025, in: Ultramicroscopy. 270.2025, April, 10 S., 114105.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Decomposition of CrN induced by laser-assisted atom probe tomography

    Waldl, H., Hans, M., Schiester, M., Primetzhofer, D., Burtscher, M., Schalk, N. & Tkadletz, M., Apr. 2023, in: Ultramicroscopy. 246.2023, April, 8 S., 113673.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

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