Publikationen

321 - 330 von 804Seitengröße: 10
rss feed
Sortieren nach: Erscheinungsjahr
  1. 2015
  2. Veröffentlicht

    Structure-property relations in reactively sputtered molybdenum oxide thin films

    Pachlhofer, J., Jachs, C., Franz, R., Franzke, E., Winkler, J. & Mitterer, C., 2015.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Synthesis of nanoporous graphene oxide adsorbents by freeze-drying or microwave radiation: Characterization and hydrogen storage properties

    Kostoglou, N., Tzitzios, V., Kontos, A. G., Giannakopoulos, K., Tampaxis, C., Papavasiliou, A., Charakambopoulou, G., Steriotis, T., Li, Y., Liao, K., Polychronopoulou, K., Mitterer, C. & Rebholz, C., 2015, in: International Journal of Hydrogen Energy . 40, S. 6844-6852

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    The peculiarity of the metalceramic interface

    Zhang, Z., Long, Y., Cazottes, S., Daniel, R., Mitterer, C. & Dehm, G., 2015, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). S. 1-12

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

    Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. 2014
  7. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Complementary ab initio and X-ray nanodiffraction studies of Ta2 O5

    Hollerweger, R., Holec, D., Paulitsch, J., Bartosik, M., Daniel, R., Rachbauer, R., Polcik, P., Keckes, J., Krywka, C., Euchner, H. & Mayerhofer, P. H., 30 Okt. 2014, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 83.2015, 15 January, S. 276-284 9 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Mono-textured nanocrystalline thin films with pronounced stress-gradients: On the role of grain boundaries in the stress evolution

    Daniel, R., Jäger, E., Todt, J., Sartory, B., Mitterer, C. & Keckes, J., 28 Mai 2014, in: Journal of applied physics. 115, 20, 203507.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Macroscopic fracture behaviour of CrN hard coatings evaluated by X-ray diffraction coupled with four-point bending

    Stefenelli, M., Riedl, A., Todt, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 1 Jan. 2014, Materials Science Forum. Band 768-769. S. 272-279 8 S. (Materials Science Forum; Band 768-769).

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  10. Veröffentlicht

    60. Metallkunde Jubiläumskolloquium - Abstractband

    Mitterer, C. (Hrsg.) & Clemens, H. (Hrsg.), 2014, Eigenverlag.

    Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung

  11. Veröffentlicht

    A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings

    Riedl, A., Daniel, R., Todt, J., Steffenelli, M., Holec, D., Sartory, B., Krywka, C., Müller, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 257, S. 108-113

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    A new method for polychromatic X-ray μLaue diffraction on a Cu pillar using an energy-dispersive pn-junction charge-coupled device

    Abboud, A., Kirchlechner, C., Send, S., Micha, J. S., Ulrich, O., Pashniak, N., Strüder, L. W. J., Keckes, J. & Pietsch, U., 2014, in: Review of scientific instruments. 85, S. 1139011-1139018

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Vorherige 1...29 30 31 32 33 34 35 36 ...81 Nächste

Erweiterte Suche

Alle Verfasser/-innen

Zurücksetzen

Bis
Filter zurücksetzen