Publikationen

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2015
Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film
Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
2014
Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Complementary ab initio and X-ray nanodiffraction studies of Ta2 O5
Hollerweger, R., Holec, D., Paulitsch, J., Bartosik, M., Daniel, R., Rachbauer, R., Polcik, P., Keckes, J., Krywka, C., Euchner, H. & Mayerhofer, P. H., 30 Okt. 2014, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 83.2015, 15 January, S. 276-284 9 S.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Mono-textured nanocrystalline thin films with pronounced stress-gradients: On the role of grain boundaries in the stress evolution
Daniel, R., Jäger, E., Todt, J., Sartory, B., Mitterer, C. & Keckes, J., 28 Mai 2014, in: Journal of applied physics. 115, 20, 203507.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Macroscopic fracture behaviour of CrN hard coatings evaluated by X-ray diffraction coupled with four-point bending
Stefenelli, M., Riedl, A., Todt, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 1 Jan. 2014, Materials Science Forum. Band 768-769. S. 272-279 8 S. (Materials Science Forum; Band 768-769).
Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
Veröffentlicht
A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings
Riedl, A., Daniel, R., Todt, J., Steffenelli, M., Holec, D., Sartory, B., Krywka, C., Müller, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 257, S. 108-113
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
A new method for polychromatic X-ray μLaue diffraction on a Cu pillar using an energy-dispersive pn-junction charge-coupled device
Abboud, A., Kirchlechner, C., Send, S., Micha, J. S., Ulrich, O., Pashniak, N., Strüder, L. W. J., Keckes, J. & Pietsch, U., 2014, in: Review of scientific instruments. 85, S. 1139011-1139018
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Ab initio studies on the adsorption and adhesive transfer of Al and Fe to nitride coatings materials
Riedl, H., Zalesak, J., Sobiech, M., Polcik, P., Holec, D. & Mayrhofer, P. H., 2014.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Controlled functionality of thin films through advanced microstructural design
Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Cu diffusion into single-crystalline TiN studied by transmission electron microscopy and atom probe tomography
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Schalk, N., Keckes, J., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2014.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Diffusion studies in epitaxial TiN/Cu layers on MgO(001) by high resolution TEM and APT
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Schalk, N., Keckes, J., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2014.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

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X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

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Macroscopic fracture behaviour of CrN hard coatings evaluated by X-ray diffraction coupled with four-point bending

A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings

A new method for polychromatic X-ray μLaue diffraction on a Cu pillar using an energy-dispersive pn-junction charge-coupled device

Ab initio studies on the adsorption and adhesive transfer of Al and Fe to nitride coatings materials

Controlled functionality of thin films through advanced microstructural design

Cu diffusion into single-crystalline TiN studied by transmission electron microscopy and atom probe tomography

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