Gschwandl, M.,
Friedrich, B. E.,
Pfost, M.,
Antretter, T.,
Fuchs, P. F.,
Mitev, I.,
Tao, Q. &
Schingale, A.,
4 Mai 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.)
in: Microelectronics Reliability. 133.2022,
June,
9 S., 114537.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)