Das Risswachstumsverhalten von C110-Sauergasmaterialqualitäten nach API Specification 5CT wurde während Methode D Versuchen nach NACE Standard TM0177-2005 an Double Cantilever Beam Proben mit Hilfe der Gleichstrom-Potentialsprungmethode untersucht. Messungen unter Standard- und milden Bedingungen zeigen, dass das Risswachstum stets während der vorgeschriebenen Testdauer (14 und 17 Tage) nicht vollständig abgeschlossen ist. In beiden Bedingungen konnte jedoch eine Mindestprüfdauer von ca. 10 Tagen ermittelt werden, nach welcher das danach nur noch geringfügige Risswachstum keinen weiteren signifikanten Einfluss auf die erhaltenen Spannungsintensitätsfaktoren unter Sauergasbedingungen (KISSC-Werte) bewirkt. Des Weiteren wurde der Einfluss unterschiedlicher Legierungselemente und damit einhergehend unterschiedlicher Wärmebehandlungen auf die SSC-Beständigkeit von C110 Qualitäten untersucht. Höhere Anlasstemperaturen und ein plattenförmiger Martensit führen zu besten Ergebnissen.