Representativeness of Automated SEM/EDX Analyses for Inclusion Characterisation

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

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Titel in ÜbersetzungRepresentativeness of Automated SEM/EDX Analyses for Inclusion Characterisation
OriginalspracheDeutsch
StatusVeröffentlicht - 2008
Veranstaltung42. Metallographietagung - Jena, Deutschland
Dauer: 17 Sept. 200819 Sept. 2008

Konferenz

Konferenz42. Metallographietagung
Land/GebietDeutschland
OrtJena
Zeitraum17/09/0819/09/08