Representativeness of Automated SEM/EDX Analyses for Inclusion Characterisation
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
Titel in Übersetzung | Representativeness of Automated SEM/EDX Analyses for Inclusion Characterisation |
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Originalsprache | Deutsch |
Status | Veröffentlicht - 2008 |
Veranstaltung | 42. Metallographietagung - Jena, Deutschland Dauer: 17 Sept. 2008 → 19 Sept. 2008 |
Konferenz
Konferenz | 42. Metallographietagung |
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Land/Gebiet | Deutschland |
Ort | Jena |
Zeitraum | 17/09/08 → 19/09/08 |