Patterned Photosensitive Ultrathin Films: combining Friction Force Microscopy and Contact Angle Measurements
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Patterned Photosensitive Ultrathin Films: combining Friction Force Microscopy and Contact Angle Measurements. / Shen, Quan; Hlawacek, Gregor; Gürkan, Nurdogan et al.
2009. Postersitzung präsentiert bei 9. Workshop Rastersondermikroskopie in der Werkstoffwissenschaft, Aachen, Deutschland.
2009. Postersitzung präsentiert bei 9. Workshop Rastersondermikroskopie in der Werkstoffwissenschaft, Aachen, Deutschland.
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Shen, Q, Hlawacek, G, Gürkan, N, Teichert, C, Lex, A, Trimmel, G & Kern, W 2009, 'Patterned Photosensitive Ultrathin Films: combining Friction Force Microscopy and Contact Angle Measurements', 9. Workshop Rastersondermikroskopie in der Werkstoffwissenschaft, Aachen, Deutschland, 26/02/09 - 27/02/09.
APA
Shen, Q., Hlawacek, G., Gürkan, N., Teichert, C., Lex, A., Trimmel, G., & Kern, W. (2009). Patterned Photosensitive Ultrathin Films: combining Friction Force Microscopy and Contact Angle Measurements. Postersitzung präsentiert bei 9. Workshop Rastersondermikroskopie in der Werkstoffwissenschaft, Aachen, Deutschland.
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Shen Q, Hlawacek G, Gürkan N, Teichert C, Lex A, Trimmel G et al.. Patterned Photosensitive Ultrathin Films: combining Friction Force Microscopy and Contact Angle Measurements. 2009. Postersitzung präsentiert bei 9. Workshop Rastersondermikroskopie in der Werkstoffwissenschaft, Aachen, Deutschland.
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title = "Patterned Photosensitive Ultrathin Films: combining Friction Force Microscopy and Contact Angle Measurements",
author = "Quan Shen and Gregor Hlawacek and Nurdogan G{\"u}rkan and Christian Teichert and Alexandra Lex and Georg Trimmel and Wolfgang Kern",
year = "2009",
language = "Deutsch",
note = "9. Workshop Rastersondermikroskopie in der Werkstoffwissenschaft ; Conference date: 26-02-2009 Through 27-02-2009",
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TY - CONF
T1 - Patterned Photosensitive Ultrathin Films: combining Friction Force Microscopy and Contact Angle Measurements
AU - Shen, Quan
AU - Hlawacek, Gregor
AU - Gürkan, Nurdogan
AU - Teichert, Christian
AU - Lex, Alexandra
AU - Trimmel, Georg
AU - Kern, Wolfgang
PY - 2009
Y1 - 2009
M3 - Poster
T2 - 9. Workshop Rastersondermikroskopie in der Werkstoffwissenschaft
Y2 - 26 February 2009 through 27 February 2009
ER -
