In-Situ Synchrotron Profile Analysis after High-Pressure Torsion Deformation
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Standard
in: Crystals, Jahrgang 9.2019, Nr. 5, 232, 01.05.2019.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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TY - JOUR
T1 - In-Situ Synchrotron Profile Analysis after High-Pressure Torsion Deformation
AU - Kerber, Michael
AU - Spieckermann, Florian
AU - Schuster, Roman
AU - Joni, Bertalan
AU - Schell, Norbert
AU - Schafler, Erhard
PY - 2019/5/1
Y1 - 2019/5/1
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85067063666&partnerID=8YFLogxK
U2 - 10.3390/cryst9050232
DO - 10.3390/cryst9050232
M3 - Article
VL - 9.2019
JO - Crystals
JF - Crystals
SN - 2073-4352
IS - 5
M1 - 232
ER -