Examining nanoindentation imprints with in-situ AFM-SEM
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Standard
Examining nanoindentation imprints with in-situ AFM-SEM. / Cordill, Megan; Kreith, J.; Strunz, T. et al.
2016. Postersitzung präsentiert bei Spring Materials Research Society 2016 conference, Boston, USA / Vereinigte Staaten.
2016. Postersitzung präsentiert bei Spring Materials Research Society 2016 conference, Boston, USA / Vereinigte Staaten.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Harvard
Cordill, M, Kreith, J, Strunz, T & Fantner, EJ 2016, 'Examining nanoindentation imprints with in-situ AFM-SEM', Spring Materials Research Society 2016 conference, Boston, USA / Vereinigte Staaten, 28/03/16.
APA
Cordill, M., Kreith, J., Strunz, T., & Fantner, E. J. (2016). Examining nanoindentation imprints with in-situ AFM-SEM. Postersitzung präsentiert bei Spring Materials Research Society 2016 conference, Boston, USA / Vereinigte Staaten.
Vancouver
Cordill M, Kreith J, Strunz T, Fantner EJ. Examining nanoindentation imprints with in-situ AFM-SEM. 2016. Postersitzung präsentiert bei Spring Materials Research Society 2016 conference, Boston, USA / Vereinigte Staaten.
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title = "Examining nanoindentation imprints with in-situ AFM-SEM",
author = "Megan Cordill and J. Kreith and T. Strunz and E.J. Fantner",
year = "2016",
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language = "English",
note = "Spring Materials Research Society 2016 conference ; Conference date: 28-03-2016",
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TY - CONF
T1 - Examining nanoindentation imprints with in-situ AFM-SEM
AU - Cordill, Megan
AU - Kreith, J.
AU - Strunz, T.
AU - Fantner, E.J.
PY - 2016/3/30
Y1 - 2016/3/30
M3 - Poster
T2 - Spring Materials Research Society 2016 conference
Y2 - 28 March 2016
ER -
