Characterization of the Deformation Behavior of gamma-TiAl Based Alloys by In-situ X-ray Diffraction

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

Autoren

  • Klaus-Dieter Liss
  • Kun Yan
  • Matthew Peel

Organisationseinheiten

Details

Titel in ÜbersetzungCharacterization of the Deformation Behavior of gamma-TiAl Based Alloys by In-situ X-ray Diffraction
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungMRS 2010 - Boston, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 29 Nov. 20103 Dez. 2010

Konferenz

KonferenzMRS 2010
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtBoston
Zeitraum29/11/103/12/10