Characterization of semi-conducting nanorods by AFM
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of semi-conducting nanorods by AFM. / Hou, Yue; Andreev, Andrei; Teichert, Christian.
2006. Postersitzung präsentiert bei Workshop der Österreichischen Netzwerke für Nanowissenschaften und Nanotechnologie, Krems, Österreich.
2006. Postersitzung präsentiert bei Workshop der Österreichischen Netzwerke für Nanowissenschaften und Nanotechnologie, Krems, Österreich.
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Hou, Y, Andreev, A & Teichert, C 2006, 'Characterization of semi-conducting nanorods by AFM', Workshop der Österreichischen Netzwerke für Nanowissenschaften und Nanotechnologie, Krems, Österreich, 21/11/06 - 22/11/06.
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Hou, Y., Andreev, A., & Teichert, C. (2006). Characterization of semi-conducting nanorods by AFM. Postersitzung präsentiert bei Workshop der Österreichischen Netzwerke für Nanowissenschaften und Nanotechnologie, Krems, Österreich.
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Hou Y, Andreev A, Teichert C. Characterization of semi-conducting nanorods by AFM. 2006. Postersitzung präsentiert bei Workshop der Österreichischen Netzwerke für Nanowissenschaften und Nanotechnologie, Krems, Österreich.
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@conference{27333794ed274a3e82e0088e778b7eb5,
title = "Characterization of semi-conducting nanorods by AFM",
author = "Yue Hou and Andrei Andreev and Christian Teichert",
year = "2006",
language = "English",
note = "Workshop der {\"O}sterreichischen Netzwerke f{\"u}r Nanowissenschaften und Nanotechnologie ; Conference date: 21-11-2006 Through 22-11-2006",
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TY - CONF
T1 - Characterization of semi-conducting nanorods by AFM
AU - Hou, Yue
AU - Andreev, Andrei
AU - Teichert, Christian
PY - 2006
Y1 - 2006
M3 - Poster
T2 - Workshop der Österreichischen Netzwerke für Nanowissenschaften und Nanotechnologie
Y2 - 21 November 2006 through 22 November 2006
ER -
