Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy. / Schmied, Franz; Teichert, Christian; Kappel, Lisbeth et al.
2010. Postersitzung präsentiert bei MRS Spring Meeting 2010, San Francisco, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
2010. Postersitzung präsentiert bei MRS Spring Meeting 2010, San Francisco, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
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Harvard
Schmied, F, Teichert, C, Kappel, L, Hirn, U & Schennach, R 2010, 'Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy', MRS Spring Meeting 2010, San Francisco, USA / Vereinigte Staaten, 5/04/10 - 9/04/10.
APA
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U., & Schennach, R. (2010). Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy. Postersitzung präsentiert bei MRS Spring Meeting 2010, San Francisco, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
Vancouver
Schmied F, Teichert C, Kappel L, Hirn U, Schennach R. Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy. 2010. Postersitzung präsentiert bei MRS Spring Meeting 2010, San Francisco, Kalifornien, USA / Vereinigte Staaten.
Author
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@conference{2ff1fd9bf48446a6ac78e405c0c46f41,
title = "Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy",
author = "Franz Schmied and Christian Teichert and Lisbeth Kappel and Ulrich Hirn and Robert Schennach",
year = "2010",
language = "Deutsch",
note = "MRS Spring Meeting 2010 ; Conference date: 05-04-2010 Through 09-04-2010",
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TY - CONF
T1 - Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy
AU - Schmied, Franz
AU - Teichert, Christian
AU - Kappel, Lisbeth
AU - Hirn, Ulrich
AU - Schennach, Robert
PY - 2010
Y1 - 2010
M3 - Poster
T2 - MRS Spring Meeting 2010
Y2 - 5 April 2010 through 9 April 2010
ER -
