Rostislav Daniel

Publikationen

  1. Veröffentlicht
  2. Veröffentlicht
  3. Veröffentlicht

    TEM characterization of CrN thin films epitaxially grown on MgO (001)

    Harzer, T. P., Kormout, K., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2012.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Transmission electron microscopy characterization of CrN films on MgO(001)

    Harzer, T. P., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 154-160 7 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Ion irradiation-induced localized stress relaxation in W thin film revealed by cross-sectional X-ray nanodiffraction

    Hlushko, K., Mackova, A., Zalesak, J., Burghammer, M., Davydok, A., Krywka, C., Daniel, R., Keckes, J. & Todt, J., 7 Feb. 2021, in: Thin solid films. 722.2021, 31 March, 6 S., 138571.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Complementary ab initio and X-ray nanodiffraction studies of Ta2 O5

    Hollerweger, R., Holec, D., Paulitsch, J., Bartosik, M., Daniel, R., Rachbauer, R., Polcik, P., Keckes, J., Krywka, C., Euchner, H. & Mayerhofer, P. H., 30 Okt. 2014, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 83.2015, 15 January, S. 276-284 9 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht
  8. Veröffentlicht
  9. Veröffentlicht
  10. Veröffentlicht

    Evolution of structure and residual stress of a fcc/hex-AlCrN multi-layered system upon thermal loading revealed by cross-sectional X-ray nano-diffraction

    Jäger, N., Klima, S., Hruby, H., Julin, J., Burghammer, M., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 2019, in: Acta materialia. 162.2019, 1, S. 55-66 12 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)